Dissertação de Mestrado #469: Daniel Parreiras

Neste trabalho, foi realizada a determinação estrutural de Pd(111) e de um filme ultra-fino de Fe3O4(111) sobre Pd(111) por meio da técnica de Difração de Fotoeletrons (PED – Photoelectron Diffraction). O filme foi crescido e caracterizado em ambiente de ultra alto vácuo (UHV) no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS). O crescimento de Fe3O4(111)/Pd(111) se deu por evaporação de ferro ultra puro sobre o substrato em ambiente de oxigênio (PO2 = 9×10-6 mbar). Foram utilizadas fonte de luz síncrotron (h=300eV ) e fonte de raios X convencional (A/K) nos experimentos de difração de fotoeletrons. Também fizemos a análise química por meio da técnica XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) e através da técnica LEED (Low Energy Electron Diffraction) verificou-se a qualidade cristalográfica da superfície de nossas amostras.