Dissertação de Mestrado #465: Bruno Lourenço

Modelo de Ising Antiferromagnético em um Campo Externo: simulação por amostragem entrópica

Autor: Bruno Jeferson Lourenço

Banca Avaliadora

Ronald Dickman (orientador), Física

UFMG

Antônio Sérgio Teixeira Pires, Física

UFMG

Jafferson Kamphorst Leal da Silva, Física

UFMG

Orientadores

Ronald Dickman (orientador)

Departamento de Física - UFMG

Resumo do Trabalho

Nesse trabalho estudamos o modelo de Ising antiferromagnético na presença de um campo externo na rede quadrada através de um novo método de amostragem, chamado tomographic entropic sampling (amostragem entrópica tomográfica). Esse novo algoritmo de amostragem entrópicaa se propõe a realizar um passeio completo por todo espaço configuracional, sem a necessidade de utilização de “janelas”, a fim de obter boas estimativas do número de configurasções, Ω os estados do sistema em estudo. Tendo em vista esse propósito do algoritmo de amostragem entrópica tomogrcacute;fica, definimos algumas classes de configuraçóes fundamentais da rede quadrada no espaço energia-magnetização. Tais classes de configurações formam um conjunto básico e fundamental, das quais todas as possíveis configurações do sistema fazem parte – com isso podemos ter certeza de que todo espaço configuracional é visitado durante a amostragem. Realizamos estimativas de Ω(L) para L = 10 à 30, com ΔL = 2. Assim, calculamos as médias microcanônicas e canônicas das quantidades termodinâmicas de interesse. Lançamos mão da análise de escala de tamanho finito para estimar alguns pontos ao longo da linha crítica no plano h-T e comparamos esses resultados com uma aproximação teórica, deduzida por M&uum;ller-Hartmann e Zittartz, que fornece uma expressão analítica para a linha crítica do modelo de Ising antiferromagnético em um campo externo. Também estudamos os cruzamentos dos cumulantes de Binder do parâmetro de ordem em um ponto crítico. Além disso, em três pontos distintos ao longo da linha crítica, estudamos as propriedades críticas do sistema e estimamos os expoentes críticos associados ao parâmetro de ordem, φ, e à susceptibilidade alternada (associada ao parâmetro de ordem), Χφ.