Dissertação de Mestrado #366: Elton Lopes
Determinação da estrutura atômica da superfície (001) de FeO e InSb via difração de elétrons
Autor: Elton Luz Lopes
Banca Avaliadora
Vagner Eustáquio de Carvalho (orientador), Física
UFMG
Edmar Avellar Soares, Física
UFMG
Bismarck Vaz da Costa, Física
UFMG
Carlos Basílio Pinheiro, Física
UFMG
Maria Carolina de Oliveira Aguiar, Física
UFMG
Orientadores
Vagner Eustáquio de Carvalho
Departamento de Física - UFMG
Resumo do Trabalho
Este trabalho trata-se da determinação da estrutura atômica de dois sistemas específicos. O primeiro consistiu de um filme de FeO monocristalino de 22 monocamadas de espessura crescido em substrato de Ag na direção [001]. A análise estrutural foi feita através da difração de elétrons de baixa energia (LEED) e mostrou uma superfície (001) com parâmetro de rede igual ao que é esperado para a estrutura volumétrica do óxido, mas com um pequeno desnível (rumple) dos átomos da superfície (3.9% do parâmetro de rede) com os átomos de oxigênio movendo para fora do cristal. O segundo sistema estudado envolveu as reconstruções c(8×2) e c(4×4) da face (001) do composto semicondutor InSb, bem como a adsorção de átomos de paládio sobre a superfície. Para esses estudos foi usada a difração de fotoelétrons (PED) e XPS. Devido à necessidade de longo tempo para a realização dos cálculos não foi possível chegar-se a um resultado conclusivo sobre as estruturas examinadas e assim apenas uma análise parcial dos dados experimentais é apresentada.