Dissertação de Mestrado #720 – Yuri Bernardes Marçal – 26/03/2024

Esta dissertação apresenta um novo método para investigar nanoestruturas epitaxiais com tamanho de dezenas de nanômetros e seu campo de deformação no plano utilizando nanodifração de raios X, uma técnica que apresenta alta sensibilidade à deformação local e resolução espacial. A observação desses objetos tem sido desafiadora nas últimas décadas e algoritmos de reconstrução, como imagem de difração coerente (IDC) ou pticografia, são limitados a casos em que há gradientes espaciais de parâmetros de rede extremamente suaves ou livres de tensão/deformação. Uma breve revisão da literatura sobre crescimento e auto-orgnização de cristais de tamanho nanométrico, bem como das técnicas de Microscopia de Força Atômica (AFM) e nanodifração de raios X (nano-XRD) é apresentada a fim de orientar o leitor na compreensão das etapas do experimento. Usando o sistema Stranski-KrastanovInGaAs / GaAs, mostramos como ilhas epitaxiais com grande descasamento de rede e deformação interfacial apreciável podem ser identificadas e analisadas diretamente através da propagação de seu campo de deformação em membranas cristalinas de espessura nanométrica. O uso de simulações de Método de Elementos Finitos permite uma análise mais profunda dos resultados experimentais e uma correlação quantitativa da deformação inicial em cada ilha deInGaAs e seu decaimento espacial, levando a uma comparação direta visual e quantitativa do campo de deformação simulado com os dados experimentais. A assinatura da deformação no plano induzida pela presença das ilhas torna-se detectável ao longo de alguns micrômetros de distância das ilhas se a espessura da membrana for comparável ao tamanho da nanoestrutura. Neste caso, tanto a tensão interfacial quanto o tamanho da nanoestrutura podem ser inferidos através da sondagem de objetos individuais.

Tópico: Defesa de Dissertação – Yuri Bernardes Marçal
Horário: 26 mar. 2024 09:00 da manhã São Paulo

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ID da reunião: 851 4042 5468
Senha: 232265