Dissertação de Mestrado #705 – Gabriel Henrique Bargas – 16/08/2023
Uso de sMIM (scanning Microwave Impedance Microscopy) para a caracterização de bicamadas de grafeno giradas
Autor: Gabriel Henrique Bargas
Banca Examinadora
Prof. Leonardo Cristiano Campos (orientador)
DF/UFMG
Prof. Gilberto Medeiros Ribeiro (Coorientador)
DCC/UFMG
Helio Chacham
DF/UFMG
Prof. Luiz Gustavo de Oliveira Lopes Cançado
DF/UFMG
Orientação
Prof. Leonardo Cristiano Campos (orientador)
DF/UFMG
Resumo do Trabalho
O presente trabalho teve como foco caracterizar as super-redes em bicamadas de grafeno giradas utilizando-se da medidas de sMIM (scanning Microwave Impedance Microscopy), técnica capaz de perceber mudanças espaciais de condutividade e de permissividade de uma amostra, a partir de um processo de reflexão de micro-ondas. As bicamadas de grafeno giradas são estruturas que possuem suas propriedades elétricas moduladas pelo ângulo de torção entre as camadas. Estudos mostraram a existência do chamado ângulo mágico, sobre o qual as bicamadas giradas apresentam inúmeras propriedades interessantes. Este estudo buscou caracterizar as super-redes em amostras de bicamadas de grafeno giradas no ângulo mágico encapsuladas por um fino floco de nitreto de boro hexagonal, medidas que até então, nenhuma técnica de caracterização era capaz de realizar. Para a realização de tal tarefa, construiu-se amostras com ângulos de rotação próximos ao ângulo mágico encapsuladas por um floco de 1 nm de nitreto de boro. Realizou-se medidas de sMIM em tais amostras, e demonstrou-se que esta técnica é capaz de caracterizar super-redes de dimensões semelhantes as formadas no ângulo mágico em amostras