Dissertação de Mestrado #755 – Mateus dos Santos Cardoso – 06/03/2025

Esta dissertação apresenta as etapas de preparação, caracterização e análise da interface grafeno/Rh(111), empregando as técnicas XPS, LEED, STM e ARPES. O trabalho foi realizado no sistema UHV da SPECS no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron. O substrato de Rh(111) foi preparado com ciclos de sputtering e annealing, seguido pelo crescimento do grafeno, utilizando propeno sob condições controladas de temperatura e pressão. A qualidade da interface foi verificada pelas técnicas mencionadas. Os resultados de XPS mostraram dois picos no espectro do C 1s, indicando dois ambientes químicos distintos para os átomos de carbono, associados a diferentes interações com o substrato. Medidas LEED revelaram uma estrutura Moiré com periodicidade de 3,3 nm, corroborada por imagens STM de alta resolução, que evidenciaram variações estruturais na interface. As medidas em ARPES confirmou a presença do cone de Dirac próximo ao ponto K’ da zona de Brillouin, mostrando que o grafeno estava dopado. A velocidade de Fermi foi determinada a partir dos gráficos de dispersão linear do cone de Dirac. Os resultados demonstram que o grafeno cresce em uma estrutura tipo Moiré sobre o Rh(111), com interação química diferenciada entre o grafeno e o substrato. Este estudo contribui para a compreensão das propriedades eletrônicas e estruturais dessa interface.