Dissertação de Mestrado #622 – Thiago Carvalho Ribeiro – 14/03/2019
Síntese e Caracterização de Filmes Finos e Nanoestruturas de SnS
Autor: Thiago Carvalho Ribeiro
Banca Examinadora
Prof. André Santarosa Ferlauto (Orientador)
CECS/UFABC
Prof. Rodrigo Gribel Lacerda
DF/UFMG
Prof. Rogério Magalhães Paniago
DF/UFMG
Prof. Myriano Henriques de Oliveira Junior (Coorientador)
DF/UFMG
Orientação
Prof. André Santarosa Ferlauto (Orientador)
CECS/UFABC
Prof. Myriano Henriques de Oliveira Junior (Coorientador)
DF/UFMG
Resumo do Trabalho
Neste trabalho estudamos a síntese e as propriedades de filmes e nanoestruturas de SnS obtidos por um método simples de deposição por fase de vapor sob pressão controlada. Primeiramente, tratamos o pó comercial de SnS termicamente para eliminar as fases indesejadas, SnS2 e Sn2S3. Para demonstrar a purificação do pó comparamos os padrões de difração de raios X medidos para o pó sem tratamento e tratado com a referência. Posteriormente, sintetizamos amostras com diferentes configurações de temperatura e obtivemos estruturas de SnS com morfologias distintas. Sendo o crescimento dos cristais isolados favorecido por um pequeno gradiente de temperatura e os filmes por um grande gradiente de temperatura entre as regiões de sublimação e deposição do material, podendo haver crescimento dos dois tipos morfológicos em uma mesma amostra. Sintetizamos também grãos isolados com formatos atípicos semicirculares que no geral possuem espessura menor que dos cristais ortorrômbicos característicos. Realizamos estudos sobre o formato e orientação cristalográfica dos cristais ortorrômbicos isolados a partir das imagens de microscopia óptica, microscopia eletrônica de varredura (MEV) e energias superficiais dos planos cristalinos do SnS. Utilizamos a espectroscopia Raman para identificar a fase das amostras sintetizadas. Além disso a técnica de espectroscopia Raman polarizada nos ajudou a confirmar a orientação cristalográfica dos cristais isolados.