Seminário Geral: Comparando análises quantitativas de EDS e WDS em microscópios eletrônicos de varredura usando padrões microanalíticos e amostras de teste interlaboratorial.

A microanálise de amostras heterogêneas em microssondas eletrônicas (EPMA – Electron Probe Microanalysis) é um procedimento consolidado há décadas em contraposição à microanálise com EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) em microscópios eletrônicos de varredura. A alta corrente e sua estabilidade (~nA),  óptica específica privileginado estabilidade de corrente, espectrômetros de comprimento de onda de de raio- x(WDS – Wavelength X-ray Spectrometer) e a comparação com padrões microanalíticos faz das microssondas um equipamento de análise bastante confiável, mas demorado e limitado à disponibilidade de padrões do laboratório onde se está fazendo a análise.

Nos últimos anos entretanto houve uma melhoria considerável nos microscópios eletrônicos de varredura relacionada à estabilidade do feixe eletrônico e uma verdadeira revolução dos detectores de EDS, de Si(Li) para detectores do tipo “silicon drift detectors – SDD” que permitem uma contagem várias ordens de grandeza mais altas, privilegiando a relação sinal/ruído, tornado-os extremamente atrativos para análises quantitativas rápidas. Contudo, esta facilidade de análise, aliada à grande disponibilidade de microscópios eletrônicos para muitos grupos de pesquisa sem tradição em microscopia eletrônica tem levado à geração de resultados quantitativos incorretos por desconhecimento das limitações das técnicas. Serão apresentadas as técnicas de forma resumida e resultados comparativos da análise padrões microanalíticos e amostras de teste interlaboratorial realizadas em 3 microscópios eletrônicos de varredura e uma microssonda eletrônica.