Dissertação de Mestrado #366: Elton Lopes

Este trabalho trata-se da determinação da estrutura atômica de dois sistemas específicos. O primeiro consistiu de um filme de FeO monocristalino de 22 monocamadas de espessura crescido em substrato de Ag na direção [001]. A análise estrutural foi feita através da difração de elétrons de baixa energia (LEED) e mostrou uma superfície (001) com parâmetro de rede igual ao que é esperado para a estrutura volumétrica do óxido, mas com um pequeno desnível (rumple) dos átomos da superfície (3.9% do parâmetro de rede) com os átomos de oxigênio movendo para fora do cristal. O segundo sistema estudado envolveu as reconstruções c(8×2) e c(4×4) da face (001) do composto semicondutor InSb, bem como a adsorção de átomos de paládio sobre a superfície. Para esses estudos foi usada a difração de fotoelétrons (PED) e XPS. Devido à necessidade de longo tempo para a realização dos cálculos não foi possível chegar-se a um resultado conclusivo sobre as estruturas examinadas e assim apenas uma análise parcial dos dados experimentais é apresentada.